如何校準(zhǔn)恒溫恒濕試驗箱
責(zé)任編輯:林頻儀器 發(fā)布時間:2023-12-01 08:45
恒溫恒濕試驗箱的校準(zhǔn)是確保設(shè)備性能準(zhǔn)確可靠的關(guān)鍵步驟。本文將詳細(xì)介紹校準(zhǔn)的步驟、項目以及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),以確保試驗箱在使用過程中符合驗收標(biāo)準(zhǔn)和第三方機(jī)構(gòu)的校準(zhǔn)規(guī)范。
恒溫恒濕試驗箱的校準(zhǔn)方法
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外觀檢查:
- 按照計量特性要求對試驗箱進(jìn)行外觀檢查,確保外觀符合要求。
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電氣安全性檢查:
- 使用萬用表、兆歐表測量接地電阻和絕緣電阻,確保結(jié)果符合相關(guān)要求。
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測試點數(shù)量確定:
- 用卷尺測量工作室容積,按照要求確定測試點。
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箱內(nèi)風(fēng)速校準(zhǔn):
- 使用智能熱球風(fēng)速儀在箱內(nèi)試樣架不同位置進(jìn)行測量,確保平均值符合要求。
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溫度校準(zhǔn)點的選擇:
- 在試樣架上、中、下部共9點確定測量點,確保位置符合規(guī)范。
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溫度均勻度和波動度校準(zhǔn):
- 在高溫和低溫時,確保溫度均勻度不大于2.0℃,溫度波動度在高溫時不大于±0.5℃,低溫時不大于±1.0℃。
恒溫恒濕試驗箱的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T5170.1-1995《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》
- GB/TS170.2-1996《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備》
- GB/T5170-1996《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備》
- JJF1101-2003《恒溫恒濕試驗設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》
- GBl158-1989《高溫試驗箱技術(shù)條件》
- GB10589-1989《低溫試驗箱技術(shù)條件》
- GB10592-1989《高低溫試驗箱技術(shù)條件》
- GB10586-1989《濕熱試驗箱技術(shù)條件》
- GB10587-1989《鹽霧試驗箱技術(shù)條件》
結(jié)論:
校準(zhǔn)是確保恒溫恒濕試驗箱性能穩(wěn)定的必要步驟。通過按照上述項目和標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn),可以確保設(shè)備在使用過程中達(dá)到合同規(guī)定的技術(shù)要求,同時滿足行業(yè)驗收標(biāo)準(zhǔn)和第三方機(jī)構(gòu)的校準(zhǔn)規(guī)范。
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