電子元件的制造商竭盡全力使他們生產(chǎn)零件和設(shè)備小型化，在科技技術(shù)上更一步提高。然而，太過小型化也引起了人們對這些小型部件的安全性和可靠性的關(guān)注。較小的尺寸使這些產(chǎn)品特別容易受到熱應(yīng)力的影響。在制造過程或 終使用過程中可能會產(chǎn)生嚴(yán)重的溫度適應(yīng)力。制造商現(xiàn)在轉(zhuǎn)向嚴(yán)格的環(huán)境測試方法，以確保這些產(chǎn)品具有高質(zhì)量和可靠性。

        熱沖擊是環(huán)境試驗(yàn)的一種方法，它使產(chǎn)品經(jīng)受高溫和低溫的交替極端。這種類型的測試允許觀察由不同材料及其熱膨脹系數(shù)引起的產(chǎn)品特性變化和故障發(fā)生。盡管傳統(tǒng)上按照軍用測試標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行，但如今大多數(shù)商業(yè)可靠性和質(zhì)量控制程序也要求快速和極端的溫度變化。林頻提供了幾種能夠滿足各種測試需求的熱沖擊室配置。

        垂直雙區(qū)室有可獨(dú)立控制的冷熱區(qū)。一個單籃產(chǎn)品載體在冷熱區(qū)之間移動，使產(chǎn)品受到溫度劇烈變化的影響。

        林頻高低溫試驗(yàn)箱的水平三區(qū)熱激波室采用三個溫度控制區(qū)：熱、環(huán)境和冷。產(chǎn)品從環(huán)境溫度移動到高溫，或從環(huán)境溫度移動到低溫。如果需要的話，可以將試驗(yàn)箱編程為包括環(huán)境區(qū)的停留時間。水平熱震室可用于進(jìn)行3區(qū)或傳統(tǒng)的2區(qū)測試，以增加通用性。